FEI掃描電鏡專為細(xì)胞、細(xì)胞器、石棉、聚合物和軟材料等在環(huán)境溫度和低溫下的二維和三維成像而設(shè)計。以其可選的、可伸縮的冷凍箱和低劑量技術(shù)提高了電子束敏材料的成像質(zhì)量。此外，可以在配置中添加側(cè)插式可伸縮能量色散光譜(EDS)探測器，以實現(xiàn)精確化學(xué)分析。超大間隙的C-Twin極靴提供了*的應(yīng)用靈活性，再加上超高穩(wěn)定性的電子鏡筒，為高分辨率三維表征、原位動態(tài)觀察和衍射應(yīng)用提供了新的機會。
FEI掃描電鏡具有高對比度、高質(zhì)量的TEM和stem成像，可同時檢測多種信號，并可采用四通道集成stem探測器。超穩(wěn)定的槍管和遠程操作與智能凸輪和恒功率目標(biāo)快速模式和HT開關(guān)。多用戶環(huán)境下的快速輕松切換。所有常規(guī)的TEM校正，如聚焦、最佳中心高度、中心光束偏移、中心聚焦孔徑和旋轉(zhuǎn)中心，都是自動化的。
FEI掃描電鏡產(chǎn)品優(yōu)勢：
1.*的復(fù)合末級透鏡可以在沒有電子束減速的情況下對任何樣品提供i較好的分辨率，即使在傾斜或地形測量時也是如此。
2.高效的背散射檢測始終確保良好的材料對比度，即使電子束敏感樣品在低電壓、電子束電流和任何傾斜角度下以TV速率成像。
3.極為靈活的探測器可以將探測器各部分提供的信息結(jié)合起來，以獲得關(guān)鍵的對比度或信號強度。
4.各種電荷緩解策略，包括樣品室壓力高達500pa的低真空模式，可以實現(xiàn)任何樣品的成像。
5.優(yōu)秀的分析平臺提供高電子束流，而且光斑很小。樣品箱支持三個EDS探測器，共面EDS和EBSD，以及一個優(yōu)化用于分析的低真空系統(tǒng)。
