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技術(shù)文章
  • 2023

    8-11

    環(huán)境掃描電子顯微鏡適用于哪些樣品類型?

    環(huán)境掃描電子顯微鏡是一種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù),可以在相對(duì)較高的濕度和低真空條件下觀察樣品。環(huán)境掃描電子顯微鏡廣泛應(yīng)用于各種不同類型的樣品研究,包括但不限于以下幾個(gè)領(lǐng)域:1、生物學(xué):可用于生物樣品的觀察和研究。由于可以在濕潤(rùn)的環(huán)境中工作,適用于觀察活細(xì)胞、細(xì)菌、微生物和生物材料等。它提供了觀察這些樣品在自然狀態(tài)下的形態(tài)、結(jié)構(gòu)和相互作用的能力。2、材料科學(xué):可用于分析各種材料,包括金屬、陶瓷、聚合物、復(fù)合材料和納米材料等。通過(guò)使用,可以觀察材料的表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)、晶粒大小和分布、缺...
  • 2023

    8-10

    金屬金相分析中的夾雜物分析方法有哪些?

    金屬金相分析是金屬材料研究和質(zhì)量檢驗(yàn)的基礎(chǔ),在材料研發(fā)、鋼鐵冶煉和金屬加工生產(chǎn)等行業(yè)領(lǐng)域,材料的性能離不開(kāi)金相分析。而夾雜物分析是金相分析中非常重要的一塊。傳統(tǒng)的夾雜物檢測(cè)方法整體可分為化學(xué)分析和儀器分析兩類,包括化學(xué)提取、無(wú)損檢測(cè)、熔煉濃縮、常規(guī)二維平面分析等,但這些方法主觀性太強(qiáng)、很難具備統(tǒng)一、可靠的評(píng)判標(biāo)準(zhǔn),而且效率低、成本高、統(tǒng)計(jì)量小、代表性差、存在制樣干擾,無(wú)法滿足用戶全面評(píng)估夾雜物的要求。隨著企業(yè)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量越來(lái)越關(guān)注,日益增長(zhǎng)的分析需求與滯后的檢測(cè)方法之間的矛盾越...
  • 2023

    8-8

    環(huán)境真空掃描電鏡在哪些領(lǐng)域有應(yīng)用?

    環(huán)境真空掃描電鏡在許多不同領(lǐng)域中都有廣泛的應(yīng)用。以下是其中一些主要領(lǐng)域:1、材料科學(xué):環(huán)境真空掃描電鏡在材料科學(xué)中發(fā)揮著重要作用。它可以用于觀察材料的表面形貌、紋理和結(jié)構(gòu),并研究材料的表面化學(xué)成分和反應(yīng)行為。這對(duì)于材料開(kāi)發(fā)、質(zhì)量控制和故障分析非常關(guān)鍵。2、生物學(xué):被廣泛應(yīng)用于生物學(xué)研究中。它可以幫助科學(xué)家觀察生物樣品的微觀結(jié)構(gòu),如細(xì)胞、組織和生物體的外觀。還可以研究生物樣品的形態(tài)、表面特征和互動(dòng)過(guò)程,以增加我們對(duì)生物系統(tǒng)的理解。3、地質(zhì)學(xué)和地球科學(xué):可用于地質(zhì)學(xué)和地球科學(xué)領(lǐng)域...
  • 2023

    8-5

    透射掃描電子顯微鏡的工作原理是什么?

    透射掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡,能夠觀察納米級(jí)別的物質(zhì)結(jié)構(gòu)及原子級(jí)別的細(xì)節(jié)。它利用電子束而非光束進(jìn)行成像,使得其分辨率比光學(xué)顯微鏡高得多。透射掃描電子顯微鏡的工作原理基于電子的波粒二象性和物質(zhì)對(duì)電子的相互作用。下面是它的主要工作原理:1、電子源:使用一種叫做熱陰極的發(fā)射電子源產(chǎn)生電子束。該電子源通常由鎢絲構(gòu)成,當(dāng)鎢絲加熱到高溫度時(shí),會(huì)發(fā)射出高速電子。2、準(zhǔn)直系統(tǒng):電子束離開(kāi)電子源后,經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直系統(tǒng)中的準(zhǔn)直器和孔徑,使電子束變得平行且緊湊。準(zhǔn)直系統(tǒng)有助于控制電子束的直徑...
  • 2023

    8-2

    場(chǎng)發(fā)射電鏡在納米材料研究中的作用是什么?

    場(chǎng)發(fā)射電鏡在納米材料研究中具有重要的作用。它是一種高分辨率的顯微鏡,可以觀察并獲取納米尺度下物質(zhì)的形貌、結(jié)構(gòu)和成分信息。場(chǎng)發(fā)射電鏡在納米材料研究中的幾個(gè)關(guān)鍵作用:1、提供高分辨率成像能力:能夠提供非常高的空間分辨率,通常在納米尺度范圍內(nèi),甚至更低。這使得研究人員能夠觀察和表征納米材料的微觀形貌,如顆粒大小、形狀、表面結(jié)構(gòu)等。通過(guò)高分辨率成像,可以深入理解納米材料的結(jié)構(gòu)特征以及與性能之間的關(guān)系。2、表征納米尺度的結(jié)構(gòu)和拓?fù)洌嚎梢詫?duì)納米材料中的晶體結(jié)構(gòu)、晶界、納米孔隙等進(jìn)行詳細(xì)表...
  • 2023

    7-12

    鎢燈絲掃描電鏡中的燈絲該怎么保養(yǎng)?

    鎢燈絲掃描電鏡的燈絲壽命相對(duì)較短,一般只有幾十個(gè)小時(shí)。燈絲壽命直接影響掃描電鏡運(yùn)行成本、有效運(yùn)行時(shí)間、儀器性能等。因此日常維護(hù)保養(yǎng)要格外注意燈絲的保養(yǎng)。1.保持鏡筒的高真空度隨時(shí)注意鏡筒是否存在微小泄露,同時(shí)保證各級(jí)泵的性能,必要時(shí)要更換泵油。再有就是待觀察樣品應(yīng)盡量干燥、無(wú)揮發(fā)性物質(zhì)。2.適當(dāng)增加燈絲高度燈絲工作時(shí)發(fā)射電子束,燈絲的發(fā)射束流與燈絲的加熱電流和燈絲高度有關(guān),燈絲高度越大,則燈絲達(dá)飽和點(diǎn)的工作溫度就越低,燈絲表面蒸發(fā)得也越慢。因此在保證理論高度的條件下,我們可以...
  • 2023

    7-12

    FIB雙束電鏡的原理和工作方式是什么?

    FIB雙束電鏡是一種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù),結(jié)合了離子束和電子束的特點(diǎn)和功能。它可以同時(shí)提供離子束刻蝕和電子顯微鏡成像功能,廣泛應(yīng)用于納米加工、樣品制備和三維顯微鏡觀察等領(lǐng)域。FIB雙束電鏡的原理基于兩個(gè)主要組件:離子槍和電子顯微鏡。離子槍通過(guò)加速電場(chǎng)將離子束產(chǎn)生并聚焦到非常小的直徑,通常在幾奈米至數(shù)十納米的范圍內(nèi)。離子束主要由高能離子組成,如加速電壓可達(dá)幾千伏特。離子束可以通過(guò)控制離子束的掃描和剝蝕模式對(duì)樣品進(jìn)行刻蝕、切割和修復(fù)等加工操作。這對(duì)于納米器件的制造以及樣品的準(zhǔn)備具有重...
  • 2023

    7-9

    sem掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用及優(yōu)勢(shì)

    掃描電子顯微鏡是一種重要的材料科學(xué)工具,它在材料表征和分析方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用。以下是sem掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用及其優(yōu)勢(shì):1、表面形貌分析:可以提供高分辨率的表面形貌圖像,可用于研究材料的表面粗糙度、紋理、顆粒形態(tài)等特征。這對(duì)于評(píng)估材料的質(zhì)量、檢查加工過(guò)程中的缺陷以及研究材料的物理性質(zhì)非常重要。2、組織結(jié)構(gòu)觀察:可以觀察材料的微觀組織結(jié)構(gòu),包括晶體結(jié)構(gòu)、晶界、相互作用等。通過(guò)使用,可以研究材料的晶體取向、晶粒尺寸分布、相變等,從而了解材料的力學(xué)性能、導(dǎo)電性能、磁性等。3、...
  • 2023

    7-6

    FEI掃描電鏡在生命科學(xué)研究中的應(yīng)用分析

    FEI掃描電鏡在生命科學(xué)研究中有廣泛的應(yīng)用。能夠提供高分辨率和三維表面形貌信息,因此在觀察細(xì)胞、組織和生物材料的微觀結(jié)構(gòu)方面具有重要意義。FEI掃描電鏡在生命科學(xué)研究中的一些主要應(yīng)用:1、細(xì)胞形態(tài)學(xué)研究:可以觀察細(xì)胞的表面形態(tài),揭示其結(jié)構(gòu)特征、大小、形狀和紋理等,從而幫助研究細(xì)胞的功能和相互作用。2、組織學(xué)研究:通過(guò)對(duì)組織樣本進(jìn)行觀察,可以獲得細(xì)胞組織的微觀形態(tài)信息,如細(xì)胞排列方式、細(xì)胞間連接等,有助于了解不同組織的結(jié)構(gòu)和功能。3、病理學(xué)研究:可用于觀察疾病相關(guān)的細(xì)胞和組織變...
  • 2023

    7-3

    簡(jiǎn)析場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的主要組成部分

    場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種常用的高分辨率顯微鏡,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域。它由多個(gè)關(guān)鍵組成部分構(gòu)成,下面將對(duì)場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的主要組成部分進(jìn)行簡(jiǎn)析。1、電子槍:電子槍是FE-SEM的核心部件之一,負(fù)責(zé)產(chǎn)生高能電子束。電子槍包括發(fā)射源和加速系統(tǒng)。發(fā)射源通常采用鎢絲或石墨等材料,并通過(guò)加熱使其發(fā)射電子。加速系統(tǒng)使用高壓電場(chǎng)將電子束加速至所需的能量水平。2、減焦系統(tǒng):減焦系統(tǒng)用于將電子束從電子槍聚焦為細(xì)小的電子束,以便獲取更高的分辨率。減焦系統(tǒng)通常包括透鏡和電磁透鏡等光學(xué)...
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