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2021

6-25

賽默飛掃描電鏡結(jié)合了全面的成像性能和*的環(huán)境模式，同時兼容廣泛的硬件和軟件選型，可滿足多用戶實驗室的綜合應(yīng)用需求。支持掃描預(yù)設(shè)、便捷的相機導(dǎo)航更進一步提升了生產(chǎn)力、數(shù)據(jù)質(zhì)量和易用性。多種檢測器選項的定向背散射探測器、STEM、陰極熒光探測器等功能，探測器信號同步采集和顯示，可以在最短的時間內(nèi)提供答案。此外，ESEM可以在現(xiàn)實條件下對樣品進行原位研究，例如在濕潤、高溫、潮濕或反應(yīng)性環(huán)境中的樣品觀察賽默飛掃描電鏡有三種真空模式，使得系統(tǒng)靈活性*，可以容納任何SEM可用的*泛的樣品...

2021

6-23

賽默飛電子顯微鏡的相關(guān)介紹，你確定不了解一下嗎？

賽默飛掃描電鏡由電子槍發(fā)射出來的電子束，在加速電壓的作用下，經(jīng)過磁透鏡系統(tǒng)匯聚，經(jīng)過二至三個電磁透鏡所組成的電子光學(xué)系統(tǒng)，電子束會聚成一個細的電子束聚焦在樣品表面。在末級透鏡上邊裝有掃描線圈，在它的作用下使電子束在樣品表面掃描。賽默飛掃描電鏡由于高能電子束與樣品物質(zhì)的交互作用，結(jié)果產(chǎn)生了各種信息：二次電子、背反射電子、吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光和透射電子等。這些信號被相應(yīng)的接收器接收，經(jīng)放大后送到顯像管的柵極上，調(diào)制顯像管的亮度。由于經(jīng)過掃描線圈上的電流是與顯像管相...

2021

6-21

掃描電鏡顯微鏡的組成及應(yīng)用

在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡顯微鏡發(fā)揮著極其重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機制及材料性能預(yù)測等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過程，可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式，還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等。掃描電鏡顯微鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分。鏡體部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣系統(tǒng)組成。電子光學(xué)系統(tǒng)：由電子槍，電磁透鏡，掃描線圈和樣品...

2021

6-21

掃描電鏡在微電子技術(shù)中的應(yīng)用

掃描電鏡與一般光學(xué)顯微鏡相比，具有以下特點：焦深大，視場調(diào)節(jié)范圍寬、圖象立體感強，分辨率高以及通過收集電子束與樣品作用而得到樣品材料結(jié)構(gòu)和物理特性的信息。這些特點對于分析微電子材料和器件來說具有更為突出的效用，因而它在微電子材料和器件分析中的應(yīng)用越來越廣泛。本文主要介紹掃描電鏡在微電子技術(shù)中應(yīng)用。(1)質(zhì)量監(jiān)控與工藝診斷硅片表面沾污常常是影響微電子器件生產(chǎn)質(zhì)量的嚴重問題，為了查清沾污的種類、來源，以清除沾污，就必須對沾污物進行檢查和鑒定。硅片沾污物種類繁多，有太氣中灰塵、加工...

2021

6-15

透射電鏡的組成結(jié)構(gòu)分幾部分？

1、電子光學(xué)部分整個電子光學(xué)部分*置于鏡筒之內(nèi)，自上而下順序排列著電子槍、聚光鏡、樣品室、物鏡、中間鏡、投影鏡、觀察室、熒光屏、照相機構(gòu)等裝置。根據(jù)這些裝置的功能不同又可將電子光學(xué)部分分為照明系統(tǒng)、樣品室、成像系統(tǒng)及圖像觀察和記錄系統(tǒng)。(1)照明系統(tǒng)照明系統(tǒng)由電子槍、聚光鏡和相應(yīng)的平移對中及傾斜調(diào)節(jié)裝置組成。它的作用是為成像系統(tǒng)提供一束亮度高、相干性好的照明光源。為滿足暗場成像的需要照明電子束可在2-3度范圍內(nèi)傾斜。①電子槍它由陰極、柵極和陽極構(gòu)成。在真空中通電加熱后使從陰極...

2021

6-11

環(huán)境對臺式掃描電鏡產(chǎn)生的影響有哪些?

想必臺式掃描電鏡使用者都知道，臺式掃描電鏡日常的維護保養(yǎng)十分關(guān)鍵，無論儀器設(shè)備是在運行情況還是非運行情況，都對周邊的環(huán)境有嚴苛的規(guī)定。這類環(huán)境會對臺式掃描電鏡造成遲緩的影響，假如稍不注意便會使它的使用期限慢慢減少。因此使用者要看重這個問題，不能讓環(huán)境影響到其精度。本文就環(huán)境對臺式掃描電鏡造成的干擾進行介紹：1、灰塵的干擾假如導(dǎo)軌、鏡頭和電源等電子元件沾到了過多浮塵物質(zhì)，便會對該儀器設(shè)備的精度、成像造成嚴重干擾，造成測量效果不精確，而且也會加速硬件的毀壞，因此一定要定時清理，注...

2021

6-8

掃描電鏡的結(jié)構(gòu)你了解嗎？

在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著極其重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機制及材料性能預(yù)測等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過程，可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式，還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等。我們應(yīng)該了解掃描電鏡的結(jié)構(gòu)，并在自己的科學(xué)研究中利用好掃描電鏡這個工具，對材料進行全面細致的研究。1．鏡筒鏡筒包括電子槍、聚光鏡、物鏡及掃描系統(tǒng)。其作用是產(chǎn)生很細的...

2021

3-19

光學(xué)顯微鏡是怎樣的操作的？讀完下文你就知道了

與其他精密儀器相比光學(xué)顯微鏡作為材料表征的常規(guī)手段在制藥和精細化工領(lǐng)域被嚴重忽視。在樣品制備方面光學(xué)顯微鏡*的扮演著重要的角色，但其在固體性質(zhì)研究方面一樣可以發(fā)揮重要的作用。本文主要目的在于矯正這種失衡同時旨在說明光學(xué)顯微鏡特別是偏光顯微鏡在大部分的材料表征中均應(yīng)占有一席之地。對偏光顯微鏡的應(yīng)用不應(yīng)僅局限于理解所研究化合物的性質(zhì)；其應(yīng)當(dāng)是有機和無機化合物發(fā)現(xiàn)和發(fā)展進而對其有全面了解這一過程中解決所遇見難題的一個*的工具。當(dāng)采用多種技術(shù)手段研究化合物的固體性質(zhì)時，偏光顯微鏡可為...

2021

2-22

顯微硬度計測試儀的構(gòu)成及用途

一、顯微硬度計測試儀的構(gòu)成及用途：1、顯微硬度計是機械、冶金等行業(yè)進行金屬材料性能檢驗的精密儀器，在各行業(yè)中廣泛應(yīng)用。2、顯微硬度計由主機、測微目鏡、各種試臺、標準硬度塊、各種壓頭、物鏡、調(diào)平角等構(gòu)成。3、測微目鏡是用來觀察金相或顯微組織，確定測試部位，測量對角線長度，數(shù)據(jù)的采集等；硬度計主機則是完成目鏡與壓頭的切換，在確定的測試部位進行施加載荷，完成平臺的移動尋找像點等；相關(guān)附件主要是為了試件的夾持穩(wěn)固等。4、顯微硬度計是光機電一體化的高新技術(shù)產(chǎn)品。5、顯微硬度計測試儀是科...

2020

12-16

偏光顯微鏡的原理及優(yōu)勢

一、偏光顯微鏡的原理：1、單折射性與雙折射性：光線通過某一物質(zhì)時，如光的性質(zhì)和進路不因照射方向而改變，這種物質(zhì)在光學(xué)上就具有“各向同性”，又稱單折射體，如普通氣體、液體以及非結(jié)晶性固體；若光線通過另一物質(zhì)時，光的速度、折射率、吸收性和偏振、振幅等因照射方向而有不同，這種物質(zhì)在光學(xué)上則具有“各向異性”，又稱雙折射體，如晶體、纖維等。2、光的偏振現(xiàn)象：光波根據(jù)振動的特點，可分為自然光與偏振光。自然光的振動特點是在垂直光波傳導(dǎo)軸上具有許多振動面，各平面上振動的振幅分布相同；自然光經(jīng)...